SICK 接近开关测量质量稳定可靠 - 不受被测物体影响凭借强大的光学系统和改进的信号处理技术，可实现结构化表面、深黑色表面以及高光泽表面的测量通过高测量频率提高生产率智能出厂设置和操作直观，可轻松实现试运行和操作凭借强大的性能与相对较低的购置成本，实现很高的经济性应用极端的光照条件下也具有很高的可用性借助 IO-Link 和 SOPAS 软件实现快速集成。
SICK 接近开关特点
重复性：2 µm ... 20 µm
线性度：± 10 µm ... 100 µm
测量频率：高达 3 kHz
通过 OLED 显示屏或 SOPAS ET 进行直观的配置
测量范围为 25 mm 至 160 mm
激光级别 1
模拟输出和数字输出，带 IO-Link 接口
坚固的微型外壳